OU3500膜厚仪采用了磁性测厚法：是一种超小型测量仪,它能快速,无损伤,精确地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的测量.可广泛用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.特别适用于工程现场测量. 膜厚仪采用二次荧光法：它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
在生产过程中如何选择膜厚仪呢? 首先取决于你所测产品的结构.如果只是简单的涂层,铜箔使用普通的膜厚仪就可以解决了. 如果测电镀层的厚度,而且具有几层镀层,那么就要使用x-射线膜厚仪.单镀层厚度大于0.5um的还可以采用金相法观察.