OU3500膜厚仪在测量物体时,除测量方法外,还会有其他因数会导致测量结果有所偏差,具体影响因数请看下表.
涂层测厚仪影响测量的因素对照表 :
测量方式法 | 磁性测量 | 涡流测量 |
基体金属磁性质 | ＊ | |
基体金属电性质 | ＊ | |
边缘效应 | ＊ | ＊ |
曲率 | ＊ | ＊ |
试件粗糙度 | ＊ | ＊ |
磁场 | ＊ | |
附着物质 | ＊ | ＊ |
测头压力 | ＊ | ＊ |
测头取向 | ＊ | ＊ |
基体金属厚度 | ＊ | ＊ |
试件的形状 | ＊ | ＊ |
涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层,亦可以测量金属电镀的膜厚仪,因此,涂层测厚仪,通常也称为涂膜厚仪 .